IPS e.max ZirPress – grezzi per pressatura in vetroceramica a base di fluoro-apatite |
IPS e.max ZirPress assume la funzione e le caratteristiche delle masse dentina e Margin finora stratificate e sinterizzate convenzionalmente. Con IPS e.max ZirPress lo strato di dentina viene sovrapressata sulla struttura in ossido di zirconio. In tal modo si possono ottenere strutture a supporto delle cuspidi attraverso la stabile ceramica pressata, affinché la ceramica da stratificazione venga applicata in strato uniforme. Grazie al confezionamento in grezzi si può ottenere una migliore omogeneità (assenza di porosità ed ottimale legame) delle zone di Margin e dentina. IPS e.max ZirPress può essere rivestito con IPS e.max Ceram oppure essere pressato in forma totalmente anatomica, pitturato e glasato. Caratteristiche fisiche Compatibilità di IPS e.max ZirPress con strutture in ossido di zirconio L’incidenza di distacchi („Chipping“) da materiali per sovrapressatura è un importante mezzo di misura della probabilità di sopravvivenza, rispettivamente della necessità di riparazioni di trattamenti protesici. Per il test nel simulatore di masticazione Willytec le corone sovrapressate posizionate su monconi standardizzati, sono state esposte a carico eccentrico con un antagonista in acciaio. A tale scopo l’antagonista ha percorso un piano di movimento traslatorio (profondità di corsa = 2,0 mm, altezza di corsa 5 mm, velocità di abbassamento 40 mm/sec) dalla fossa fino ad 1 mm dall’apice della cuspide della cuspide distobuccale con un carico di 3 kg, quindi 5 kg e poi 9 kg. Ogni fase di carico era composta di 100.000 cicli di carico e 300 termocicli (5°C/55°C). Diversi materiali a base di ossido di zirconio sono stati sovrapressati con IPS e.max ZirPress. |
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Distacchi di IPS e.max ZirPress su diverse strutture in ossido di zirconio sono avvenuti solo molto raramente. Il legame di IPS e.max ZirPress con altri materiali é ben visibile nelle immagini SEM. Il contrasto „Compo Kontrast“ é una specifica modalità di visualizzazione. Attraverso il segnale della diffusione all’indietro degli elettroni (BSE: back scattering electrons) le zone dei campioni, a seconda della composizione del materiale, vengono raffigurate in una diversa luminosità. Il legame di IPS e.max ZirPress con la struttura in IPS e.max ZirCAD (Liner) nonché con il materiale per stratificazione IPS e.max Ceram é omogeneo, privo di pori e incrinature (Figg. 5 - 7). |
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Legame IPS e.max ZirCAD – ZirLiner - IPS e.max ZirPress (Compo Kontrast) Resistenza alla frattura di ponti inlay Gabbert et al. hanno rilevato la resistenza alla frattura di ponti inlay privi di metallo. E’ stato verificato l’influsso di due diverse brecce (distanze) (molare, nonché premolare e molare). |
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Fig. 9: Resistenza alla frattura di ponti inlay privi di metallo con strutture in ossido di zirconio (Gabbertet al, 2004)
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